CN119537350A 单波长光束测厚参考数据库建立方法、测量方法及设备 (北京特思迪半导体设备有限公司).docxVIP

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  • 2026-05-10 发布于山西
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CN119537350A 单波长光束测厚参考数据库建立方法、测量方法及设备 (北京特思迪半导体设备有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119537350A

(43)申请公布日2025.02.28

(21)申请号202510100042.0

(22)申请日2025.01.22

(71)申请人北京特思迪半导体设备有限公司

地址101300北京市顺义区杜杨北街3号院

6号楼(顺创)

(72)发明人周惠言孟炜涛孙昕宇蒋继乐

(51)Int.Cl.

G06F16/21(2019.01)

G01B11/06(2006.01)

H01L21/66(2006.01)

权利要求书2页说明书9页附图2页

(54)发明名

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