《GBT+42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》练习题试卷及参考答案.pdfVIP

《GBT+42676-2023半导体单晶晶体质量的测试X射

线衍射法》练习题试卷

一、单选题（每题2分，共30分）

1.GB/T42676-2023《半导体单晶晶体质量的测试X射线衍射法》的发布日期是？

A.2023年8月6日

B.2024年3月1日

C.2023年12月28日

D.2023年5月23日

2.该标准采用哪种方法来评价半导体单晶晶体质量？

A.X射线荧光光谱法

B.X射线光电子能谱法

C.X射线衍射法（双晶摇摆曲线半高宽）

D.X射线吸收精细结构谱法

3.双晶摇摆曲线半高宽受下列哪个因素的影响？

A.样品厚度

B.样品弯曲

C.样品颜色

D.样品密度

4.为降低样品弯曲对摇摆曲线半高宽的影响，可采取的措施是？

A.增大入射束宽度

B.减小入射束宽度

C.增加测量温度

D.减少测量时间

5.除了减小入射束宽度，还可通过选用什么来降低弯曲影响？

A.低指数衍射晶面

B.高指数衍射晶面

C.高电压

D.低电流

6.摇摆曲线半高宽可用于反映材料的什么？

A.化学成分

B.结晶质量

C.密度大小

D.硬度大小

7.该方法是否可以分辨具体缺陷类型？

A.可以精准分辨