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CN119541609A 一次性可编程器件的测试结构及测试方法 （荣芯半导体(宁波)有限公司）.docxVIP

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  • 2026-05-12 发布于山西
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CN119541609A 一次性可编程器件的测试结构及测试方法 （荣芯半导体(宁波)有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119541609A

    (43)申请公布日2025.02.28

    (21)申请号202510098334.5

    (22)申请日2025.01.22

    (71)申请人荣芯半导体（宁波）有限公司

    地址315809浙江省宁波市北仑区柴桥街

    道金水桥路28号4幢1号1层-1

    (72)发明人黄云龙荣宝辉

    (74)专利代理机构北京市磐华律师事务所11336

    专利代理师高伟

    (51)Int.Cl.

    G11C29/56(2006.01)

    G11C29/50(2006.01)

    权利要求书1页说明书6页附图

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