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- 2026-05-16 发布于北京
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标题:TE011模式开腔法与闭腔法测定微波介质陶瓷介电性能标准化发展报告
英文标题:StandardizationDevelopmentReportontheDeterminationofDielectricPropertiesofMicrowaveDielectricCeramicsbyTE011ModeOpenCavityandClosedCavityMethods
摘要
本报告旨在系统阐述《微波介质陶瓷介电性能测试方法开腔法、闭腔法》国家标准的立项背景、目的意义、主要技术内容及其对行业发展的重要意义。随着5G/6G移动通信、卫星互联网、物联网等技术的飞速发展,作为核心元器件的微波介质陶瓷,其三大基本性能指标——相对介电常数(εr)、介电损耗角正切(tanδ)及谐振频率温度系数(τf)的精确测试,已成为制约材料研发与应用的关键瓶颈。当前,尽管我国在微波介质陶瓷研究和应用领域已跻身世界前列,但直接相关的国标却制定于2000年之前,存在测试精度不足、测试下限高、缺失τf测试内容等问题,严重滞后于技术发展需求。本标准的拟制定,旨在采用国际公认的TE011模式开腔法(平行板法)与TE011模式闭腔法(金属谐振腔法),针对微波介质陶瓷εr范围宽(2~500)、tanδ极低(10??~10?3)、τf近零等特性进行专门优化。报告详细阐述了两种方法
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