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  • 2026-05-19 发布于广东
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ApplicationNote

功率元器件

根据测定波形计算功率损耗

本应用笔记记载了SiCMOSFET方案的开关电路根据测得的开关波形计算SiCMOSFET的功率损耗的方法。

和电流间的时间轴方向会错位、Figure2的阴影部分面积就不

开关波形的测定

正确了,会得出大于或小于实际的损耗值结果。为了去除这个

测定系统的延迟差,需要进行纠偏修正(de-skew)。方法请参

Figure1所示的是开关电路和波形监视探头。MOSFET的漏-

考测量仪器操作手册或测定器厂商的技术资料。

源级间电圧使用差动电圧探头来测定,漏极电流则使用电流探

头来测定。

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