1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 行业资料
  5. 国内外标准规范

CN119575149A 基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质 （深圳市晶存科技股份有限公司）.docxVIP

  • 2
  • 0
  • 约2.39万字
  • 约 36页
  • 2026-05-16 发布于山西
  • 举报

CN119575149A 基于供电切换的芯片批量测试方法及其系统、设备、介质 （深圳市晶存科技股份有限公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119575149A

    (43)申请公布日2025.03.07

    (21)申请号202510139269.6

    (22)申请日2025.02.08

    (71)申请人深圳市晶存科技股份有限公司

    地址518000广东省深圳市福田区福保街

    道福保社区市花路创凌通科技大厦三

    层

    (72)发明人颜红华

    (74)专利代理机构广州嘉权专利商标事务所有限公司44205

    专利代理师赵伟杰

    (51)Int.Cl.

    G01R31/28(2006.01)

    G01R1/04(2006.01)

    权利要求书3页说明书12页

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >