CN120195928A 测试掩膜版及其版图绘制方法 (重庆芯联微电子有限公司).pdfVIP

  • 1
  • 0
  • 约1.04万字
  • 约 9页
  • 2026-05-20 发布于重庆
  • 举报

CN120195928A 测试掩膜版及其版图绘制方法 (重庆芯联微电子有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120195928A

(43)申请公布日2025.06.24

(21)申请号202510319045.3

(22)申请日2025.03.18

(71)申请人重庆芯联微电子有限公司

地址4

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档