CN120278097A 芯片测试方法及相关装置 （成都海光集成电路设计有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120278097A

(43)申请公布日2025.07.08

(21)申请号202510349401.6

(22)申请日2025.03.24

(71)申请人成都海光集成电路设计有限公司

地址610041四川省成都市中国（四川）自

由贸易试验区成都高新区和乐二街

171号3栋

(72)发明人赵军刘通郭浩阳陈默

(74)专利代理机构上海知锦知识产权代理事务

所(特殊普通合伙)31327

专利代理师王立娜

(51)Int.Cl.

G06F30/331(2020.01)

G06F115/02(2020.01)

G06F115/08(2020.01)