CN120257906A 一种优化集成电路老化测试条件的方法 （成都电科星拓科技有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120257906A

(43)申请公布日2025.07.04

(21)申请号202510344079.8

(22)申请日2025.03.23

(71)申请人成都电科星拓科技有限公司

地址610041四川省成都市高新区府城大

道西段399号7栋3单元14层1409号

(72)发明人请求不公布姓名请求不公布姓名

请求不公布姓名请求不公布姓名

请求不公布姓名

(74)专利代理机构成都川审专利代理事务所

(普通合伙)51402

专利代理师张宽

(51)Int.Cl.

G06F30/3308(2020.01)

G06F119/02(2020