CN120256304A 一种晶圆测试数据的处理方法、装置、电子设备及介质 （杭州芯云半导体集团有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120256304A

(43)申请公布日2025.07.04

(21)申请号202510343470.6

(22)申请日2025.03.21

(71)申请人杭州芯云半导体集团有限公司

地址310051浙江省杭州市滨江区浦沿街

道六和路368号一幢(南)一楼F1066室

(72)发明人仇杰陈靖

(74)专利代理机构北京超凡宏宇知识产权代理

有限公司11463

专利代理师肖榕慧

(51)Int.Cl.

G06F11/3668(2025.01)

权利要求书1页说明书8页附图2页

(54)发明名称

一种晶圆测试数