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·134·《测控技术}2012年第31卷第6期

基于软件缺陷知识的测试框架研究

周庆，余正伟

(北京航空航天大学可靠性与系统工程学院，北京100191)

摘要：通过对软件测试框架的研究，给出了测试框架表述的三层模型，并从研究解决的软件测试问题域

出发，提出基于缺陷知识的测试框架，具体阐述了该测试框架的三层模型，并且实现了基于缺陷知识的

静态分析和灰盒动态测试技术。该测试框架为后续测试技术的研究提供了整体的理论支持。

关键词：测试框架；软件缺陷；灰盒测试

中图分类号：TP311．52文献标识码：A文章编号：1000—8829(2012)06—0134—05

TestingFrameworkBasedonSoftwareDefectKnowledge

ZHOUQing，YUZheng—wei

(SchoolofReliabilityandSystemsEngineeri