CN119618579A 一种光电子器件制备用测试设备及方法 （福建欣昊光电科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119618579A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202510165236.9

(22)申请日2025.02.14

(71)申请人福建欣昊光电科技有限公司

地址350300福建省福州市福清市阳下街

道洪智路福建万达光电科技有限公司

2号楼2层

(72)发明人陈勇

(74)专利代理机构福州市鼓楼区年盛知识产权代理事务所(普通合伙)35254

专利代理师沈小红

(51)Int.Cl.

G01M11/02(2006.01)

G01R31/26(2020.01)

权利要求书2页说明书6页附图5页

(54)发明名称

一种光电子器件制备用测试设备及方法

(57)摘要

CN119618579A本发明公开了一种光电子器件制备用测试设备及方法，涉及光电子器件光学测试技术领域，本发明包括安装在测试箱内的多个光敏二极管，还包括：伺服电机，所述伺服电机固定安装在测试箱的侧壁上，且伺服电机的输出端固定连接有驱动轴，所述驱动轴的侧壁上固定安装有连接架，且连接架上固定安装有多个安装轴；包括以下步骤：S1：先将光电子器件制备用测试设备接通电源，对伺服电机进行调试观察是否正常运行，若发现异常及时进行处理。优点在于：本发明利用安装块的往复摆动动作，则可自动且