CN119622262A 一种基于bppc算法的芯片内建自测试存储器分组方法 （南京邮电大学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119622262A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202411770208.1

(22)申请日2024.12.04

(71)申请人南京邮电大学

地址210003江苏省南京市栖霞区文苑路9

号

(72)发明人宋雨枢梁志鹏蔡九昊郭静静蔡志匡

(74)专利代理机构南京众联专利代理有限公司32206

专利代理师郭君兰

(51)Int.Cl.

G06F18/20(2023.01)

G06F18/23213(2023.01)

G06N3/006(2023.01)

G06N5/01(2023.01)

G11C29/12(2006.01)

权利要求书2页说明书5页附图3页

(54)发明名称

一种基于BPPC算法的芯片内建自测试存储

器分组方法

(57)摘要

CN119622262A本发明公开一种基于BPPC算法的芯片内建自测试存储器分组方法，属于计算、推算或计数的技术领域。该方法包括：提取存储器文件信息预处理后并存入存储器信息结构体数组；通过K_means++算法，根据存储器属性对存储器进行初步聚类；通过距离约束构建存储器之间的约束关系并用冲突矩阵表示；运用顶点着色问题模型将兼容存储器组分解为无距离关系的存储器组，使用FFD方法