CN119621455A 一种芯片内部信号的采样方法、控制器、设备和系统 （上海泰矽微电子有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119621455A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202510162356.3

(22)申请日2025.02.14

(71)申请人上海泰矽微电子有限公司

地址201210上海市浦东新区纳贤路800号

1幢A座6楼602-A室

(72)发明人田丰潘明方熊海峰

(74)专利代理机构上海双诚知识产权代理事务所(普通合伙)31423

专利代理师方玉

(51)Int.Cl.

G06F11/22(2006.01)

权利要求书2页说明书10页附图6页

(54)发明名称

一种芯片内部信号的采样方法、控制器、设

备和系统

(57)摘要

CN119621455A本发明实施例提供的一种芯片内部信号的采样方法、控制器、设备和系统，具有以下有益效果：通过接收芯片内部信号序列；若收到空闲标志符，按时间长度T0输出第一电平；若收到承载逻辑信息0的逻辑编码信号，按时间长度T1输出第二电平、时间长度T2输出第一电平；若接收承载逻辑信息1的逻辑编码信号，按时间长度T2输出第二电平、时间长度T1输出第一电平；第一电平和/或第二电平通过单引脚输出到片外采集设备，以按时间长度T3对芯片内部信号进行采集。本发明使用单引脚实现对信号的串行输出及采集，无需占用大量引脚连接片内存储