CN119830031A 采用大数据分析方式对芯片量产测试的垂直量化分析方法 (苏州锐之芯半导体技术有限公司).pdfVIP

  • 1
  • 0
  • 约2.27万字
  • 约 19页
  • 2026-05-29 发布于重庆
  • 举报

CN119830031A 采用大数据分析方式对芯片量产测试的垂直量化分析方法 (苏州锐之芯半导体技术有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119830031A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202411972974.6G06F18/2433(2023.01)

G06Q10/0635(2023.01)

(22)申请日2024.12.30

G06Q10/0631(2023.01)

(71)申请人苏州锐之芯半导体技术有限公司G06Q50/04(2012.01)

地址215614江苏省苏州市张家港市凤凰

G01R31/

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档