CN119850636A 一种基于背景重构的mura缺陷检测方法及相关设备 (深圳市正通仁禾科技有限公司).pdfVIP

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  • 2026-05-29 发布于重庆
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CN119850636A 一种基于背景重构的mura缺陷检测方法及相关设备 (深圳市正通仁禾科技有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119850636A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202510340873.5G06T5/70(2024.01)

G06T5/90(2024.01)

(22)申请日2025.03.21

G06T5/30(2006.01)

(71)申请人深圳市正通仁禾科技有限公司G06N3/0464(2023.01)

地址518110广东省深圳市龙华区观澜街

G06N3/08(2023.

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