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系统级芯片可测试性设计与优化关键技术：原理、挑战与突破

一、引言

1.1研究背景与意义

在信息技术飞速发展的当下，系统级芯片（SoC）凭借其高度集成化、高性能以及低功耗等显著优势，已然成为集成电路领域的核心与关键。SoC将多种功能模块，诸如处理器、存储器、各类接口以及模拟电路等，集成于单一芯片之上，极大地缩小了系统体积，降低了功耗，同时还显著提升了系统性能与可靠性。SoC的应用领域极为广泛，涵盖了智能手机、平板电脑、物联网设备、汽车电子、人工智能以及数据中心等诸多领域，已然成为推动现代科技发展的重要驱动力。

随着芯片技术的持续进步，SoC的规模与复杂度呈指数级增长。当前，SoC集成的