CN119936015A 一种芯片缺陷检测方法及设备 (聚好看科技股份有限公司).pdfVIP

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  • 2026-05-30 发布于重庆
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CN119936015A 一种芯片缺陷检测方法及设备 (聚好看科技股份有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119936015A

(43)申请公布日2025.05.06

(21)申请号202411935398.8

(22)申请日2024.12.26

(71)申请人聚好看科技股份有限公司

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