《芯片测试中测试向量产生的原理分析》1700字.docx

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芯片测试中测试向量产生的原理分析

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TOC\o1-3\h\u26492芯片测试中测试向量产生的原理分析 1

262321.1.1测试向量产生工具 1

28401.1.2EDA工具产生测试向量的原理 1

测试向量产生工具

本文的流程中,主要使用EDA工具TatraMax进行外部输入的测试向量的生成。TatraMax是由synopsys公司发布的一款测试向量生成的专用软件。它可以根据读入的电路结构自动计算出需要使用的测试向量,然后输出测试向量文件。

该工具软件具有以下特点:

(1)可以读入含有测试结构的设计文件,如综合工具产生的网表文件,可以是VHDL或ver

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