CN119629097A 对待测电路进行原型验证的系统及方法 （瑞昱半导体股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119629097A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202311174368.5

(22)申请日2023.09.12

(71)申请人瑞昱半导体股份有限公司地址中国台湾新竹

(72)发明人蔡嘉璇晏飞于强王曜怡

(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限责任公司11240

专利代理师梁丽超

(51)Int.Cl.

H04L43/50(2022.01)

G01R31/3185(2006.01)

权利要求书2页说明书11页附图9页

(54)发明名称

对待测电路进行原型验证的系统及方法

(57)摘要

CN119629097A本发明提供一种对待测电路进行原型验证的系统以及方法。该系统包含一封包产生器、一扰乱电路、该待测电路以及一检测电路，其中该扰乱电路、该待测电路以及该检测电路实施在现场可编辑逻辑门阵列上。该封包产生器输出多个标准封包，其中每一标准封包的长度均落在标准范围内。该扰乱电路依据该多个标准封包产生多个扰乱封包至该待测电路，以使该待测电路依据该多个扰乱封包产生多个输出封包，其中任一扰乱封包的长度落在该标准范围外。该检测电路依据该多个扰乱封包以及该多个输出封包验证该

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