CN119881481A 一种电子元器件的加速寿命测试方法 (浙江大学).pdfVIP

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  • 2026-06-02 发布于重庆
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CN119881481A 一种电子元器件的加速寿命测试方法 (浙江大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119881481A

(43)申请公布日2025.04.25

(21)申请号202411934176.4

(22)申请日2024.12.26

(71)申请人浙江大学

地址310058浙江省杭州市西湖区余杭塘

路866号

(72)发明人刘浩赵晏斌

(74)专利代理机构杭州求是专利事务所有限公

司33200

专利代理师林超

(51)Int.Cl.

G01R31/00(2006.01)

G06F18/243(2023.01)

G06F18/27(2023.01)

权利要求书2页说明书5页附图3

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