CN119850565A 一种透明元件微小缺陷双阶段检测方法及系统 (中南大学).pdfVIP

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  • 2026-06-02 发布于重庆
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CN119850565A 一种透明元件微小缺陷双阶段检测方法及系统 (中南大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119850565A

(43)申请公布日2025.04.18

(21)申请号202411938477.4G06V10/764(2022.01)

G06V10/80(2022.01)

(22)申请日2024.12.26

G06V10/82(2022.01)

(71)申请人中南大学

G06N3/0475(2023.01)

地址410083湖南省长沙市岳麓区麓山南G06N3/0464(2023.01)

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