自动化传感器实验报告二金属箔式应变片半桥性能实验.docx

研究报告

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自动化传感器实验报告二金属箔式应变片半桥性能实验

一、实验目的

1.验证金属箔式应变片半桥电路的线性度

(1)在本次实验中，我们针对金属箔式应变片半桥电路的线性度进行了详细测试。实验过程中，我们选取了不同应变值，通过半桥电路输出相应的电压信号。测试结果显示，在应变范围为±100με时，应变片输出电压与应变值之间呈现出良好的线性关系。具体来说，当应变值为0με时，输出电压为0.5V；当应变值增加到100με时，输出电压上升至1.0V；当应变值减少到-100με时，输出电压下降至0.0V。这一线性度表现符合理论预期，证明了半桥电路在较大应变范围内具有