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2026年电镜使用试题及答案

一、填空题（每题2分，共20分）

1.在使用透射电子显微镜（TEM）观察样品时，为了提高分辨率，通常需要对样品进行______处理。

2.电子显微镜的分辨率主要受限于______和样品的______。

3.在扫描电子显微镜（SEM）中，二次电子信号主要来自于样品表面的______。

4.使用透射电子显微镜（TEM）时，样品厚度一般要求在______以下。

5.电子显微镜的加速电压通常在______到______之间。

6.在透射电子显微镜（TEM）中，使用______来提高样品的透过率。

7.扫描电子显微镜（SEM）的样品制备通常比透射电子显微镜（TEM）的样品制备______。

8.电子显微镜的成像原理是基于电子束与样品相互作用产生的______。

9.在透射电子显微镜（TEM）中，使用______来聚焦电子束。

10.电子显微镜的样品室通常需要维持______的环境，以防止电子束散射。

二、判断题（每题2分，共20分）

1.透射电子显微镜（TEM）的分辨率高于扫描电子显微镜（SEM）。（）

2.电子显微镜的样品制备通常比光学显微镜简单。（）

3.电子显微镜的成像原理与光学显微镜相同。（）

4.在透射电子显微镜（TEM）中，样品厚度一般要求在100纳米以下。（）

5.电子显微镜的加速电压越高，分辨率越高。（