CN119738470A 一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统 (清华大学).pdfVIP

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  • 2026-06-08 发布于重庆
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CN119738470A 一种基于参数水平集的电磁涡流缺陷成像方法及系统 (清华大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119738470A

(43)申请公布日2025.04.01

(21)申请号202411951738.6G06T11/00(2006.01)

(22)申请日2024.12.27

(71)申请人清华大学

地址100084北京市海淀区清华园

(72)发明人黄松岭黄璞于歆杰彭丽莎

李世松

(74)专利代理机构北京清亦华知识产权代理事

务所(普通合伙)11201

专利代理师白雪静

(51)Int.Cl.

G01N27/904(2021.01)

G01N27/90(2021.01)

G06F30/23(2020.01)

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