《汽车安全芯片技术要求及试验方法》.pdfVIP

QC/TXXXXX—XXXX

汽车安全芯片技术要求及试验方法

1范围

本文件规定了汽车安全芯片的功能要求、电特性要求、性能要求、电磁兼容要求、功能安全要求、

信息安全要求、环境及可靠性要求、研发及生产保障要求，描述了相应的试验方法。

本文件适用于汽车安全芯片的设计开发、测试、评估和应用。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，

仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本

文件。

GB/T4937.4—2012半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）

GB/T4937.14—2018半导体器件机械和气候试验方法第14部分：引出端强度（引线牢固性）

GB/T4937.26半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试人体模

型（HBM）

GB/T32915—2016信息安