CN119619805A 晶圆测试方法、装置、测试机和存储介质 （普冉半导体(上海)股份有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119619805A

(43)申请公布日2025.03.14

(21)申请号202411924364.9

(22)申请日2024.12.25

(71)申请人普冉半导体(上海)股份有限公司

地址201000上海市浦东新区申江路5005

弄1号9层整层(实际楼层8楼)

(72)发明人黄丹鑫

(74)专利代理机构北京超凡宏宇知识产权代理

有限公司11463

专利代理师张欣欣

(51)Int.Cl.

G01R31/28(2006.01)

G01R1/073(2006.01)

权利要求书3页说明书12页附图2页