CN119723200A 缺陷类型的检测方法和装置、电子设备及存储介质 (苏州镁伽科技有限公司).docxVIP

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  • 2026-06-15 发布于山西
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CN119723200A 缺陷类型的检测方法和装置、电子设备及存储介质 (苏州镁伽科技有限公司).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119723200A

(43)申请公布日2025.03.28

(21)申请号202411880446.8

(22)申请日2024.12.19

(71)申请人苏州镁伽科技有限公司

地址215000江苏省苏州市工业园区东平

街277号

(72)发明人韩晓

(74)专利代理机构北京睿邦知识产权代理事务所(普通合伙)11481

专利代理师徐丁峰

(51)Int.Cl.

G06V10/764(2022.01)

G06V10/82(2022.01)

G06V10/80(2022.01)

G06V10/46(2022.01)

G06V10/74(2022.01)

G06T7/00(2017.01)

权利要求书3页说明书18页附图3页

(54)发明名称

缺陷类型的检测方法和装置、电子设备及存

储介质

(57)摘要

CN119723200A本申请提供了一种缺陷类型的检测方法和装置、电子设备及存储介质。所述检测方法包括:在第一图像采集设备采集的目标对象的第一图像中确定多个第一缺陷区域以及对应的第一缺陷类型并从所述多个第一缺陷区域中筛选出待检测的缺陷部分;利用第二图像采集设备采集包括所述目标对象的所述缺陷部分的待测图像,其中,所述第一图像与待测图像的图像质量是不同的;针对

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