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CN119738431A 利用带电粒子显微术检查样本的取向的方法和系统 （Fei 公司）.docxVIP

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  • 2026-06-17 发布于山西
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CN119738431A 利用带电粒子显微术检查样本的取向的方法和系统 （Fei 公司）.docx

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119738431A

    (43)申请公布日2025.04.01

    (21)申请号202411316757.1

    (22)申请日2024.09.20

    (30)优先权数据

    18/4785932023.09.29US

    (71)申请人FEI公司

    地址美国俄勒冈州

    (72)发明人R·瓦伊纳B·斯特拉卡J·霍尔泽

    (74)专利代理机构中国专利代理(香港)有限公司72001

    专利代理师史婧后云钟

    (51)Int.Cl.

    G01N23/203(2006.01)

    G01N23/2251(2

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