CN119738616A 一种元器件插入损耗测试方法、系统及终端 （上海克开电器有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119738616A

(43)申请公布日2025.04.01

(21)申请号202510239727.3

(22)申请日2025.03.03

(71)申请人上海克开电器有限公司

地址201100上海市闵行区江月路999号1

幢506室

(72)发明人糜震东岳海张力顾成

(74)专利代理机构上海申晟知识产权代理有限

公司31444

专利代理师刘莎

(51)Int.Cl.

G01R27/26(2006.01)

权利要求书3页说明书12页附图4页

(54)发明名称

一种元器件插入损耗测试方法、系统及终端

(57)摘要

CN119738616A本发明涉及一种元器件插入损耗测试方法、系统及终端，涉及插入损耗技术领域，其方法包括：获取损耗测试结果信息及测试元器件型号信息；根据测试元器件型号信息确定测试基准结果信息及结果偏差基准区间；分析损耗测试结果信息与测试基准结果信息之间的偏差情况并作为结果偏差信息；根据结果偏差信息确定结果偏差值；根据结果偏差值与结果偏差基准区间的落入情况，以确定测试参数调整信息，并输出测试参数调整信息至插入损耗试验装置进行调整后以重新进行损耗测试。本发明具有方便普通人员进

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