CN119740529A 一种基于uvm的芯片验证方法、系统及介质 （山东华芯半导体有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119740529A

(43)申请公布日2025.04.01

(21)申请号202411899986.0

(22)申请日2024.12.23

(71)申请人山东华芯半导体有限公司

地址250101山东省济南市高新区经十东

路汉峪金谷A2-3第16层1601室

(72)发明人烟晓凤姚香君姜宝来董志豪董艳

(74)专利代理机构济南泉城专利商标事务所37218

专利代理师赵玉凤

(51)Int.Cl.

G06F30/33(2020.01)

G06F30/3308(2020.01)

权利要求书1页说明书5页附图2页

(54)发明名称

一种基于UVM的芯片验证方法、系统及介质

(57)摘要

CN119740529A本发明涉及芯片验证领域，具体是一种基于UVM的芯片验证方法、系统及介质。本发明包括：基于UVM搭建验证平台，并根据验证功能点划分验证层级，对所属同一验证层级的功能点进行划分，将可交叉验证的功能点开发至一条测试用例中。每个验证层级的测试用例除基本配置外，通过仿真参数控制相应功能点的具体实现。验证方法通过脚本控制，可选择随机或指定仿真参数对所属同一层级的功能点进行交叉验证，无需对不同功能点的验证单独开发定向用例；同时通过仿真参数控制对不同功能点进行验证时，