CN120254545A 失配测试结构及其形成方法、测试方法以及建模方法 (华虹半导体(无锡)有限公司).pdfVIP

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  • 2026-06-19 发布于重庆
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CN120254545A 失配测试结构及其形成方法、测试方法以及建模方法 (华虹半导体(无锡)有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120254545A

(43)申请公布日2025.07.04

(21)申请号202510360673.6

(22)申请日2025.03.25

(71)申请人华虹半导体(无锡)有限公司

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