《多合一eUICC芯片并发和安全隔离测试方法》.docxVIP

ICS31.200CCSL56

团体标准

T/TAF356—2026

多合一eUICC芯片并发和安全隔离测试方法

ConvergenceeUICCchipconcurrencyandsecurityisolationtestspecification

2026-06-17发布2026-06-17实施

电信终端产业协会发布

T/TAF356—2026

I

目次

前言 II

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4缩略语 1

5测试环境及测试工具 2

5.1测试样品接口要求 2

5.2测试样品参数要求 2

5.3测试样品数量要求 3

6性能及并发要求（eUICC部分） 3

6.1概述 3

6.2通讯层并发 3

6.3应用层并发 6

6.4性能并发测试 9

7eUICC隔离安全要求 10

7.1安全保障 10

7.2安全功能测试 11

7.3安全渗透测试 20

8eUICCNFC功能通用测试要求 20