《核仪器仪表 测量γ放射性核素活度或发射率用 锗谱仪的校准和使用》.docxVIP

1

核仪器测量伽马放射性核素活度或发射率锗谱仪的校准和使用

1.范围

本文件规定了校准和使用高纯锗能谱仪的方法，用于测量45keV至约3000keV能量范围内的光子能量和发射率，并校准这些测量中的放射性核素活性。规定了自动寻峰的最低要求。本文件规定了使用校准源测量全能量峰值效率的方法。描述了性能测试，以确定能谱仪是否在可接受的范围内工作。这些测试评估了用于定位和拟合单能峰和多能峰的算法的局限性。提出了脉冲堆积的测量和校正方法。描述了一种确定真实符合叠加的近似幅度的测试办法。建议使用技术来检查探测器中由于级联伽马射线真实符合叠加产生的较大误差的能谱分析结果。为建立数据库、放射性核素识别、衰变校正、将伽马射线发射率转换为衰变率和蒙特卡洛模拟提供了建议。

X射线发射率的测量不包括在内，因为X射线峰需要不同的函数拟合，这些峰的峰形与γ射线峰本质上不同。此外，X射线峰是复杂的多重峰（例如，Tl的KX射线包括10个单独的成分，形成四个部分分辨的峰）。本文件不涉及湮灭辐射峰或单逃逸峰和双逃逸峰的发射率测量，这些逃逸峰是由成对产生的探测器中的部分能量沉积引起的。逃逸峰可能需要与可比的全逃逸峰不同的拟合函数。此外，湮没辐射和单逃逸峰的宽度与能量相似的γ射线峰不同且更大。讨论测量下限的可接受方法。与特定放射性核素相关的检测超出了本文件的范围。

本文件的目的是为锗（HPGe）半导体探测器