CN119768682A 荧光x射线分析装置、荧光x射线分析装置的漏水管理方法、信息存储介质以及程序 （株式会社理学）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119768682A

(43)申请公布日2025.04.04

(21)申请号202480003781.1

(22)申请日2024.05.15

(30)优先权数据

2023-1139752023.07.11JP

(85)PCT国际申请进入国家阶段日2025.02.24

(86)PCT国际申请的申请数据

PCT/JP2024/0179832024.05.15

(87)PCT国际申请的公布数据

WO2025/013407JA2025.01.16

(71)申请人株式会社理学

地址日本国东京都昭岛市松原町3丁目9番12号

(72)发明人川上裕幸

(74)专利代理机构北京瑞盟知识产权代理有限

公司11300

专利代理师刘昕孟祥海

(51)Int.Cl.

G01N23/223(2006.01)

H05G1/26(2006.01)

权利要求书2页说明书7页附图5页

(54)发明名称

荧光X射线分析装置、荧光X射线分析装置的

漏水管理方法、信息存储介质以及程序

(57)摘要

CN119768682A本发明通过高精度且迅速地检测分光室内部的漏水，在发生漏水的情况下减轻荧光X射线分析装置的故障程度。一种荧光X射线分析装置，具有：高压电源，其向电子束源施加电压；X射线管，其用