CN119714393A 近红外光电探测器性能测试方法、装置以及设备 （中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）））.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119714393A

(43)申请公布日2025.03.28

(21)申请号202411862129.3

(22)申请日2024.12.17

(71)申请人中国电子产品可靠性与环境试验研

究所（（工业和信息化部电子第五研

究所）（中国赛宝实验室））

地址511370广东省广州市增城区朱村街

朱村大道西78号

(72)发明人陆健婷柳月波赖灿雄廖文渊

李树旺路国光

(74)专利代理机构华进联合专利商标代理有限

公司44224

专利代理师成亚婷

(51)Int.Cl.

G01D18/00(2006.01)

G01D