CN119829347A Risc-vdsp芯片的rtl批量测试的优化方法、系统及介质 （北京中科昊芯科技有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119829347A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202411858582.7

(22)申请日2024.12.17

(71)申请人北京中科昊芯科技有限公司

地址100083北京市海淀区中关村东路18

号财智国际大厦A-1808

(72)发明人吴军宁张劲松

(74)专利代理机构北京沃杰永益知识产权代理

事务所(普通合伙)11905

专利代理师杨杰

(51)Int.Cl.

G06F11/22(2006.01)

G06F11/263(2006.01)

G06F11/26(2006.01)