CN119880922A 半导体芯片的检测方法和半导体芯片的检测装置 (北京怀柔实验室).pdfVIP

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  • 2026-06-29 发布于重庆
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CN119880922A 半导体芯片的检测方法和半导体芯片的检测装置 (北京怀柔实验室).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119880922A

(43)申请公布日2025.04.25

(21)申请号202510374464.7G06T7/60(2017.01)

G06T7/73(2017.01)

(22)申请日2025.03.27

(71)申请人北京怀柔实验室

地址101400北京市怀柔区杨雁东一路8号

院5号楼319室

(72)发明人魏晓光焦倩倩刘瑞李玲

王耀华唐新灵张语李立

(74)专利代理机构北京康信知识产权代理有限

责任公司11240

专利代理师霍文娟

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