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CN119555002A 材料界面厚度的xps测定方法 （季华实验室）.pdfVIP

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  • 2026-07-02 发布于重庆
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CN119555002A 材料界面厚度的xps测定方法 （季华实验室）.pdf

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN119555002A

    (43)申请公布日2025.03.04

    (21)申请号202411831121.0

    (22)申请日2024.12.12

    (71)申请人季华实验室

    地址528200广东省佛山市南海区桂城街

    道环岛南路28号

    (72)发明人范燕谭军周玉铎顾玥

    刘振东王双谭晓逸

    (74)专利代理机构深圳市世纪恒程知识产权代

    理事务所44287

    专利代理师周立文

    (51)Int.Cl.

    G01B15/02(2006.01)

    权利要求书2页说明书9页附图5页

    (54)发明名称

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