CN119692117A 小样本量下电子设备性能退化预计准确度评估方法 （哈尔滨工业大学）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119692117A

(43)申请公布日2025.03.25

(21)申请号202411829483.6

(22)申请日2024.12.12

(71)申请人哈尔滨工业大学

地址150001黑龙江省哈尔滨市南岗区西

大直街92号

(72)发明人叶雪荣孙祺森魏俊平林轩羽

周振宁陈岑陈昊

(74)专利代理机构哈尔滨龙创知识产权代理有

限公司23228

专利代理师吕洪娟

(51)Int.Cl.

G06F30/23(2020.01)

G06F119/08(2020.01)

G06F119/14(2020.01)