芯片测试作业指导书.docx

芯片测试作业指导书

本作业指导书适用于消费类、工业级通用数字/模拟混合信号芯片的晶圆级电性能测试（CP）、封装后成品电性能测试（FT）及可靠性验证测试作业，涵盖ATE自动测试、手动功能验证、环境可靠性试验全流程，为芯片测试作业提供标准化操作依据。

一、作业人员要求

测试作业人员需满足以下资质与能力要求：

1.测试工程师：需具备电子工程、微电子等相关专业本科及以上学历，熟悉TeradyneJ750、AdvantestV93000等主流ATE测试系统的操作与维护，掌握芯片Datasheet测试规范解读、测试程序（TP）逻辑验证技能；需通过公司内部《芯片测试作业规范》《ESD防护管理》等培训课