CN119831992A 一种自迭代的膜电极组件缺陷检测方法、装置和设备 （北京机械工业自动化研究所有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119831992A

(43)申请公布日2025.04.15

(21)申请号202510305683.X

(22)申请日2025.03.14

(71)申请人北京机械工业自动化研究所有限公司

地址100120北京市西城区德胜门外教场

口街一号

申请人北京理工大学卓越工程师学院

(72)发明人刘振国张书名廖旭飞苏赞马杰金富强王彬王美玲

(74)专利代理机构北京中秩新创知识产权代理

有限公司16124

专利代理师褚战星

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06V10/82(2022.01)

G06V10/774(2022.01)

G06V10/776(2022.01)

G06V10/764(2022.01)

G06V10/44(2022.01)

G06N3/045(2023.01)

G06N3/0464(2023.01)

权利要求书4页说明书19页附图6页

(54)发明名称

一种自迭代的膜电极组件缺陷检测方法、装

置和设备

(57)摘要

CN119831992A本申请提供一种自迭代的膜电极组件缺陷检测方法、装置和设备。本申请提供的方法，包括：将预先训练好的初始缺陷检测模型作为当前检测模