CN120256220A 一种flash芯片的测试系统及测试方法 （深圳市惠存半导体有限公司）.pdfVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120256220A

(43)申请公布日2025.07.04

(21)申请号202510316261.2

(22)申请日2025.03.18

(66)本国优先权数据

202411842292.32024.12.13CN

(71)申请人深圳市惠存半导体有限公司

地址518115广东省深圳市龙岗区园山街

道保安社区坳二路30号厂房1号楼301

(72)发明人罗锡彦赖辰辰薛力群刁斌

(74)专利代理机构深圳华屹智林知识产权代理

事务所(普通合伙)44785

专利代理师陈小蔓

(51)Int.Cl.

G06F11/22(2006.01)

G06F11/34(20