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子孔径拼接干涉：大口径平面波前检测的创新之路

一、引言

1.1研究背景与意义

光学检测技术作为现代光学领域的关键支撑，历经了从基础原理发现到广泛应用拓展的漫长历程。从19世纪基于光的干涉、衍射等基本原理应用于精密测量和光学元件检测，到20世纪中叶随着半导体技术和光学材料发展，实现从模拟到数字的转变，大幅提高检测精度和效率，再到如今在微电子、生物医学、航空航天等多领域深度融合应用，其发展日新月异。当下，光学检测技术已形成涵盖光纤传感、光谱分析、光学成像等成熟技术体系，不断朝着高精度、高灵敏度、集成化、智能化方向迈进。

在众多光学检测需求中，大口径平面波前检测至关重要。在天文观测领域，