《YD_T 3037.1-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第.pdfVIP

《YD_T3037.1-2023通用集成电路卡（UICC）与终

端间大容量存储接口特性测试方法第1部分：终

端》练习题试卷

一、单选题（每题2分，共15题，共30分）

1.YD/T3037.1-2023是以下哪个年份版本的替代标准？

A.2013年版

B.2015年版

C.2016年版

D.2018年版

2.本标准规定了终端上UICC与终端间什么接口特性的测试方法？

A.充电接口

B.音频接口

C.大容量存储接口

D.显示接口

3.以下哪项不属于本标准规定的测试范围？

A.电气特性测试

B.初始通信协议建立测试

C.应用软件UI测试

D.性能及功能测试

4.相较于2016版，本标准新增了哪类UICC的相关测试？

A.eUICC

B.SDUICC

C.双模UICC

D.多IMSIUICC

5.建议在什么环节依据本标准执行测试？

A.销售与推广

B.研发和生产支持大容量存储接口的终端

C.包装与运输

D.售后服务

6.本标准的发布时间是哪一年？

A.2022

B.2023

C.2024

D.2025

7.本标准是哪个系列标准的第1部分？

A.YD/T3035