CN119667330A 一种基于低频信号测量薄膜铌酸锂调制器高频下半波电压的测试方法 (中国电子科技集团公司第三十四研究所).pdfVIP

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  • 2026-07-10 发布于重庆
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CN119667330A 一种基于低频信号测量薄膜铌酸锂调制器高频下半波电压的测试方法 (中国电子科技集团公司第三十四研究所).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119667330A

(43)申请公布日2025.03.21

(21)申请号202411799326.5G01R13/00(2006.01)

(22)申请日2024.12.09

(71)申请人中国电子科技集团公司第三十四研

究所

地址541004广西壮族自治区桂林市七星

区六合路98号

(72)发明人代丰羽尹怡辉杨万里谢仕锋

欧阳弘李跃尹思杰李翰宇

(74)专利代理机构桂林文必达专利代理事务所

(特殊普通合伙)45134

专利代理师张学平

(51)Int.Cl.

G01R31/00(2006.0

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