半导体单晶材料透过率测试方法.docxVIP

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中华人民共和国国家标准

GB/T46227—2025

半导体单晶材料透过率测试方法

Testmethodfortransmittanceofsemiconductorsinglecrystalmaterials

2025-08-29发布2026-03-01实施

国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

发布

GB/T46227—2025

Ⅰ

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)与全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。

本文件起草单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司、江苏第三代半导体研究院有限公司、松山湖材料实验室、新美光(苏州)半导体科技有限公司、有研国晶辉新材料有限公司、安徽光智科技有限公司、天通银厦新材料有限公司、广东先导微电子科技有限公司、中电晶华(天津