CN119993246B 一种用于存储器阵列的快速老化测试方法及装置 （成都中航华测科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN119993246B

(45)授权公告日2025.07.04

(21)申请号202510479696.9

(22)申请日2025.04.17

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN119993246A

(43)申请公布日2025.05.13

(73)专利权人成都中航华测科技有限公司

地址610000四川省成都市高新区新达路

11号1栋1楼1号

(72)发明人虞从军李明聪李志江

(74)专利代理机构成都易创经云知识产权代理

有限公司51322

专利代理师徐海林

(51)Int.Cl.

G11C29/08(2006.01)

G11C29/12(2006.01)

(56)对比文件

CN116930770A,2023.10.24

CN118035848A,2024.05.14审查员秦娇娇

权利要求书3页说明书10页附图3页

(54)发明名称

一种用于存储器阵列的快速老化测试方法

及装置

(57)摘要

CN119993246B本发明公开了一种用于存储器阵列的快速老化测试方法及装置，涉及存储器阵列测试技术领域。包括在读写操作过程中，对存储器阵列中每个存储单元的瞬时电流波形进行捕获，并从中提取出电流特征，利用所提取的电流特征构建差异矩阵，进而动态标