NI半导体测试系统STS：降低测试成本高效解决方案.pdfVIP

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NI测试系统

使用测试系统降低测试成本

测试系统(STS)系列产品是一用NI测试技术的产品级测试系统，适用于

生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NIP平台、TestStand测试管理软件

以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计，把产品的所有关键测试

资源整合在一起，这些测试资源包括系统控制器、直流交流电源、射频仪器、待测设备接

口以及分拣仪器和探头接口。这样的紧凑型设计减小了额外的占地空间，降