CN120009688A 一种功率半导体器件老化在线诊断方法 （苏州鑫达半导体科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120009688A

(43)申请公布日2025.05.16

(21)申请号202510106642.8

(22)申请日2025.01.23

(71)申请人苏州鑫达半导体科技有限公司

地址215000江苏省苏州市工业园区金鸡

湖大道99号苏州纳米城西北区1幢

505-20室

(72)发明人张育嘉

(74)专利代理机构苏州前哨站知识产权代理事务所(普通合伙)32858

专利代理师刘坤

(51)Int.Cl.

G01R31/26(2020.01)

G06F30/20(2020.01)

权利要求书3页说明书9页附图2页

(54)发明名称

一种功率半导体器件老化在线诊断方法

(57)摘要

CN120009688A本发明公开了一种功率半导体器件老化在线诊断方法，涉及电力电子领域，包括，集成智能传感器与老化测试电路，建立多物理场耦合仿真模型；基于多物理场耦合仿真模型，评估当前器件的老化状态，得到器件的健康指数；基于多维度数据矩阵，构建异常检测模型，输出异常检测结果；通过异常检测结果，预测半导体器件的失效概率和剩余使用寿命；基于预测半导体器件的失效概率和剩余使用寿命，生成维护建议；本发明根据预测结果生成维护建议，指导用户适时采取预防性维护措施，不仅提升了老化状态评估的准确性，还增